壓敏電阻爆裂的原因，壓敏電阻的失效模式。壓敏電阻在吸收突波時(shí)，發(fā)生崩潰電壓降低時(shí)，將使其工作電流過(guò)大直至燒毀。當(dāng)壓敏電阻的使用環(huán)境或者濕度過(guò)高時(shí)，將使其劣化，從而使其工作電流過(guò)大直至燒毀或短路。當(dāng)壓敏電阻的使用電壓超過(guò)額定工作電壓時(shí)，將使其劣化，從而使其工作電流過(guò)大直至燒毀或短路。

　　壓敏爆裂可能的原因主要如下：

　　1、選用的允許電壓或尺寸規(guī)格過(guò)低，壓敏電阻過(guò)電壓損壞；

　　2、電路中浪涌過(guò)大，或浪涌比較頻繁，壓敏電阻在多次浪涌沖擊下疲勞損壞爆裂；

　　3、壓敏電阻有缺陷，如可能是假冒偽劣產(chǎn)品等，有品質(zhì)缺陷。

　　壓敏電阻的失效模式

　　第一種劣化，表現(xiàn)在漏電流增大，壓敏電壓顯著下降，直至為零。

　　第二種炸裂，若過(guò)電壓引起的浪涌能量太大，超過(guò)了選的壓敏電阻器極限的承受能力，則壓敏電阻器在抑制過(guò)電壓時(shí)將會(huì)發(fā)生陶瓷炸裂現(xiàn)象。

　　第三種穿孔，若過(guò)電壓峰值特別高，導(dǎo)致壓敏電阻器的失效模式絕大部分表現(xiàn)為劣化各穿孔（短路），解決的辦法為在使用壓敏電阻器時(shí)，與之串聯(lián)一個(gè)合適的斷路器或者保險(xiǎn)絲，避免短路引起事故。

　　總結(jié)來(lái)說(shuō)，壓敏電阻在吸收突波時(shí)，發(fā)生崩潰電壓降低時(shí)，將使其工作電流過(guò)大直至燒毀；發(fā)生爆裂（封裝層裂開(kāi)，引線與陶瓷體分離）時(shí)，將斷路，從而使保護(hù)失效；發(fā)生此片短路時(shí)將使其燒毀。當(dāng)壓敏電阻的使用環(huán)境或者濕度過(guò)高時(shí)，將使其劣化（崩潰電壓降低），從而使其工作電流過(guò)大直至燒毀或短路。當(dāng)壓敏電阻的使用電壓超過(guò)額定工作電壓時(shí)，將使其劣化（崩潰電壓降低），從而使其工作電流過(guò)大直至燒毀或短路。