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首頁電子產(chǎn)品動態(tài) 壓敏電阻的失效狀態(tài)及劣化

壓敏電阻的失效狀態(tài)及劣化

2018年11月09日17:31 

壓敏電阻阻值與兩端施加的電壓大小有關(guān),當加到壓敏電阻器上的電壓在其標稱值以內(nèi)時,電阻器的阻值呈現(xiàn)無窮大狀態(tài),幾乎無電流通過。


當壓敏電阻器兩端的電壓略大于標稱電壓時,壓敏電阻迅速擊穿導(dǎo)通,其阻值很快下降,使電阻器處于導(dǎo)通狀態(tài)。


當電壓減小至標稱電壓以下時,其阻值又開始增加,壓敏電阻又恢復(fù)為高阻狀態(tài)。


壓敏電阻器兩端的電壓超過其最大限制電壓時,它將完全擊穿損壞,無法自行恢復(fù)。

壓敏電阻


劣化實物表現(xiàn)為使用萬用表測試壓敏電阻時出現(xiàn)漏電流增大情況,壓敏電阻電壓顯著下降,直至為零。


炸裂壓敏電阻器在抑制過電壓時將會發(fā)生陶瓷炸裂現(xiàn)象,非常明顯。


穿孔電阻器的陶瓷外層將會瞬間發(fā)生電擊穿,出現(xiàn)穿孔狀態(tài)。


在壓敏電阻器的應(yīng)用過程中,當其出現(xiàn)性能劣化時,常見的劣化模式有兩種:


壓敏電阻暫態(tài)過電壓破壞:指的是短時間內(nèi)出現(xiàn)較強的暫態(tài)過電壓使電阻體穿孔,導(dǎo)致更大的電流而高熱起火,整個過程在較短時間內(nèi)發(fā)生。

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