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首頁電子產(chǎn)品動態(tài) 壓敏電阻爆裂及失效模式

壓敏電阻爆裂及失效模式

2019年09月19日11:01 

壓敏電阻爆裂及失效模式

本文主要介紹了壓敏電阻爆裂及失效模式,本文字數(shù)約930字,閱讀完全文需9分鐘。

壓敏爆裂可能的原因主要如下:

1、選用的允許電壓或尺寸規(guī)格過低,壓敏電阻過電壓損壞;

2、電路中浪涌過大,或浪涌比較頻繁,壓敏電阻在多次浪涌沖擊下疲勞損壞爆裂;

3、壓敏電阻有缺陷,假冒偽劣產(chǎn)品,產(chǎn)品本身有品質(zhì)缺陷。

壓敏電阻

壓敏電阻的失效模式

第一種劣化,表現(xiàn)在漏電流增大,壓敏電壓顯著下降,直至為零。

第二種炸裂,若過電壓引起的浪涌能量太大,超過了選的壓敏電阻器極限的承受能力,則壓敏電阻器在抑制過電壓時將會發(fā)生陶瓷炸裂現(xiàn)象。

第三種穿孔,若過電壓峰值特別高,導致壓敏電阻器的失效模式絕大部分表現(xiàn)為劣化各穿孔(短路),解決的辦法為在使用壓敏電阻器時,與之串聯(lián)一個合適的斷路器或者保險絲,避免短路引起事故。

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