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首頁電子器件常見問題 陶瓷電容的失效模式失效機(jī)理

陶瓷電容的失效模式失效機(jī)理

2020年04月15日17:29 

本文主要介紹了陶瓷電容的失效模式失效機(jī)理,本文字?jǐn)?shù)780字,閱讀全文需8分鐘。

一、陶瓷電容的失效模式及失效機(jī)理

1、電容常見的失效模式有:短路、開路、參數(shù)(包括電容量、損耗、漏電流等)飄移等。

2、電容常見的失效機(jī)理包括:來料本身的缺陷、外加電壓過高、電壓瞬態(tài)變化、浪涌電流、功率耗散過大、熱應(yīng)力、機(jī)械應(yīng)力、污染等。

二、陶瓷電容的失效機(jī)理

多層陶瓷電容本身的可靠性較高,可以長時間穩(wěn)定使用。但如果器件本身存在缺陷或在組裝過程引入缺陷,則會對其可靠性產(chǎn)生嚴(yán)重的影響。陶瓷電容常見的失效機(jī)理主要有以下幾種:

1、來料本身的缺陷

a)陶瓷介質(zhì)內(nèi)空洞

介質(zhì)內(nèi)的空洞容易導(dǎo)致漏電,介電強(qiáng)度降低。漏電容易導(dǎo)致電容內(nèi)局部過熱,由于熱電的正反饋,進(jìn)一步降低陶瓷介質(zhì)的絕緣性能,導(dǎo)致電容該位置的漏電增加。該過程循環(huán)發(fā)生,不斷惡化,輕則導(dǎo)致電容的參數(shù)飄移(絕緣電阻減小、損耗增大等),重則導(dǎo)致電容介質(zhì)擊穿,從而使電容兩端電流過大,可能產(chǎn)生爆炸甚至燃燒等過熱燒毀的嚴(yán)重后果。

陶瓷電容

b)分層

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