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首頁電子器件常見問題 片式陶瓷電容內(nèi)部外部失效因素是什么?

片式陶瓷電容內(nèi)部外部失效因素是什么?

2020年11月16日15:35 

片式多層陶瓷電容器失效是怎么一回事呢?片式多層陶瓷電容器失效有哪些因素呢?按照失效,我們分為內(nèi)部因素和外部因素,如果片式多層陶瓷電容器內(nèi)部或者外部存在某種缺陷,這都會直接影響到片式多層陶瓷電容器產(chǎn)品的電性能以及其可靠性,給產(chǎn)品質量帶來隱患。

  我們將內(nèi)部因素分為這3種:空洞、裂紋、分層。

  首先我們說說陶瓷介質內(nèi)的空洞,陶瓷電容介質空洞是怎么一回事呢?

  1、陶瓷電容介質空洞

  導致陶瓷電容空洞的主要原因是因為陶瓷粉料內(nèi)的有機或者無機的污染,燒結過程中火候控制不當,空洞的產(chǎn)生會導致漏電,而漏電又導致器件內(nèi)部發(fā)熱,進一步降低陶瓷介質的結緣性能從而導致漏電增加。該過程循環(huán)發(fā)生,不斷惡化,嚴重時導致多層陶瓷電容開裂,爆炸,甚至燃燒等嚴重后果。

陶瓷電容

  2、燒結裂紋

  燒結裂紋常起源于一端電極,沿垂直方向擴展,主要原因與燒結過程中的冷卻速度有關裂紋和危害與空洞相仿。

  3、分層

  多層陶瓷電容器的燒結為多層材料堆疊共燒。燒結溫度可以高達1000°C以上。層間結合力不強,燒結的過程中內(nèi)部污染物揮發(fā),燒結工藝控制不當都有可能導致分層的發(fā)生。分層和空間、裂紋的危害相仿,為重要的多層陶瓷電容器內(nèi)在缺陷。

  檢測方法:

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