電子元器件的主要失效模式包括開路、短路、燃燒、爆炸、漏電、功能性故障、電參數(shù)漂移、不穩(wěn)定失效等。如，一個半導體元件看似完整，但實際上需要大量的時間來調(diào)整硬件電路，有時甚至會發(fā)生爆炸。今天我們主要講的是電容、電阻和電感。防止電容器過電壓失效，電容器在過電壓條件之下很容易擊穿，實際應用之中經(jīng)常出現(xiàn)瞬時高電壓。選用瞬態(tài)過電壓性能好的電容器，并找原廠制作安全可靠的電容器。
電子元器件的主要失效模式包括開路、短路、燃燒、爆炸、漏電、功能性故障、電參數(shù)漂移、不穩(wěn)定失效等。對于硬件工程師來說，電子元器件的故障是非常麻煩的。如，一個半導體元件看似完整，但實際上需要大量的時間來調(diào)整硬件電路，有時甚至會發(fā)生爆炸。今天我們主要講的是電容、電阻和電感。
電子元器件的主要失效模式包括開路、短路、燃燒、爆炸、漏電、功能性故障、電參數(shù)漂移、不穩(wěn)定失效等。如，一個半導體元件看似完整，但實際上需要大量的時間來調(diào)整硬件電路，有時甚至會發(fā)生爆炸。今天我們主要講的是電容、電阻和電感。防止電容器過電壓失效，電容器在過電壓條件之下很容易擊穿，實際應用之中經(jīng)常出現(xiàn)瞬時高電壓。選用瞬態(tài)過電壓性能好的電容器，并找原廠制作安全可靠的電容器。
電子元器件的主要失效模式包括開路、短路、燃燒、爆炸、漏電、功能性故障、電參數(shù)漂移、不穩(wěn)定失效等。對于硬件工程師來說，電子元器件的故障是非常麻煩的。如，一個半導體元件看似完整，但實際上需要大量的時間來調(diào)整硬件電路，有時甚至會發(fā)生爆炸。今天我們主要講的是電容、電阻和電感。
電容器常見的失效形式有損壞、短路、致命故障、開路、致命故障、電參數(shù)變化（包括電容差、損耗角正切增大、絕緣性能下降或漏電流升高等）。部分功能故障泄漏部分功能故障導線腐蝕損壞或損壞絕緣體的致命故障損壞絕緣體的致命故障絕緣體表面的電弧部分功能故障，電容器故障有各種原因。各種電容器的材料、結構、制造工藝、性能、使用環(huán)境不同，其失效機理也各不相同。
電容器破壞的主要失效機理①The電介質(zhì)材料有缺陷或有缺陷，或含有導電雜質(zhì)或?qū)щ婎w粒2介質(zhì)的電老化和熱老化3介質(zhì)外部的電化學反應4銀離子轉移5.在電容器制造過程之中介質(zhì)受到機械損傷6.介質(zhì)的分子結構發(fā)生變化。7.極致高濕度或低壓環(huán)境之下的閃絡。8.機械應力之下的中等瞬時短路。
防止電容器過電壓失效，電容器在過電壓條件之下很容易擊穿，實際應用之中經(jīng)常出現(xiàn)瞬時高電壓。選用瞬態(tài)過電壓性能好的電容器，并找原廠制作安全可靠的電容器。
